低溫(wen)掃描(miao)探針顯微鏡是壹(yi)種結合(he)了(le)掃(sao)描(miao)探針顯微鏡（SPM）技術(shu)和(he)低溫環(huan)境的先(xian)進顯微技...

快(kuai)速掃(sao)描(miao)探針顯微鏡是壹(yi)種通(tong)過(guo)尖探針掃描(miao)樣(yang)品(pin)表(biao)面，獲取(qu)表面信(xin)息的顯微鏡。SPM的原(yuan)...

簡易(yi)型原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡（AFM）是壹(yi)種能(neng)夠(gou)提(ti)供(gong)高(gao)分(fen)辨(bian)率表面成像(xiang)、測(ce)量(liang)以(yi)及(ji)表面力學性質...

低溫(wen)掃描(miao)探針顯微鏡是研究(jiu)納(na)米材料、量(liang)子(zi)效(xiao)應以(yi)及(ji)低溫(wen)物(wu)理現(xian)象(xiang)的(de)重要(yao)工(gong)具。它結合(he)了(le)掃(sao)...

快(kuai)速掃(sao)描(miao)探針顯微鏡是壹(yi)種高分(fen)辨(bian)率、快(kuai)速成(cheng)像(xiang)的(de)顯微鏡技術(shu)，廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)納(na)米技術(shu)、生物(wu)...

緊湊(cou)型(xing)原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡結合(he)了(le)小型化(hua)設計與(yu)高(gao)性(xing)能(neng)技術(shu)，成(cheng)為了科研和(he)工(gong)業領域中不(bu)可缺(que)表面...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡（AFM）是壹(yi)種廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)材料科學、納(na)米技術(shu)、生物(wu)學等領域的(de)高(gao)分(fen)辨(bian)率...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡探針是壹(yi)種用(yong)於(yu)表(biao)征(zheng)材料和(he)生物(wu)樣(yang)品(pin)表(biao)面形(xing)貌和(he)特性的重要(yao)工(gong)具。其(qi)核心(xin)工(gong)作(zuo)...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡(AFM)防(fang)震(zhen)平(ping)臺(tai)的養(yang)護(hu)是(shi)保(bao)障(zhang)儀器(qi)高(gao)分(fen)辨(bian)率成像(xiang)和數據(ju)穩(wen)定性(xing)的(de)核(he)心環(huan)節(jie)。以(yi)下(xia)從(cong)環(huan)境控制、物(wu)理防(fang)護(hu)、周(zhou)期性(xing)維護(hu)及(ji)專業管理四個(ge)維度系(xi)統(tong)闡(chan)述其(qi)養護(hu)方式：壹(yi)、環(huan)境控制系(xi)統(tong)的(de)構建(jian)與維護(hu)-溫(wen)濕(shi)度精(jing)準(zhun)調控：防(fang)震(zhen)平(ping)臺(tai)需置(zhi)於(yu)恒溫(wen)恒濕(shi)環(huan)境中，推(tui)薦(jian)溫(wen)度...

以(yi)下(xia)是(shi)針對AFM拉(la)曼(man)聯用(yong)系(xi)統(tong)的(de)專(zhuan)業養(yang)護(hu)指南(nan)，涵(han)蓋核心組件維護(hu)、環(huan)境控制及(ji)長期穩(wen)定性(xing)保(bao)障(zhang)措施(shi)：壹(yi)、核(he)心部(bu)件(jian)精細化(hua)維護(hu)掃(sao)描(miao)器(qi)保(bao)養防(fang)震(zhen)動(dong)保(bao)護(hu)：由(you)於(yu)XY方向驅(qu)動分(fen)辨(bian)率達0.01nm、Z方向達(da)0.003nm，需(xu)配(pei)備(bei)主動減(jian)震(zhen)臺(tai)隔離(li)低頻振動。壓電陶(tao)瓷養(yang)護(hu)...

多功能(neng)原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡不(bu)僅(jin)僅(jin)是壹(yi)種成像工(gong)具，它已(yi)經發(fa)展成為壹(yi)種多用(yong)途、高分(fen)辨(bian)率的測(ce)量(liang)設備(bei)，能(neng)夠(gou)滿足不(bu)同學科領域的(de)需(xu)求。多功能(neng)原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡的工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)：1.探針掃描(miao)：AFM通(tong)過(guo)壹(yi)個(ge)非(fei)常尖銳的探針（通(tong)常為矽或氮化(hua)矽(gui)材料制成）掃(sao)描(miao)樣(yang)品(pin)表(biao)面。探針的末(mo)端通(tong)...

以(yi)下(xia)是(shi)關於(yu)低(di)溫(wen)掃(sao)描(miao)探針顯微鏡校準(zhun)方式的(de)描(miao)述：壹(yi)、環(huan)境與基(ji)礎(chu)設置(zhi)校準(zhun)1.溫(wen)度穩(wen)定性(xing)校驗(yan)：因(yin)設備(bei)需(xu)在(zai)低溫(wen)環(huan)境下工(gong)作(zuo)，首(shou)先要(yao)確保(bao)制冷(leng)系(xi)統(tong)精(jing)準(zhun)控溫(wen)。將標準溫(wen)度傳(chuan)感(gan)器(qi)置(zhi)於(yu)樣(yang)品(pin)臺(tai)附(fu)近，監測(ce)其(qi)在(zai)設定溫(wen)度下(xia)的(de)波動(dong)情況。理想(xiang)狀態(tai)下，長時(shi)間(jian)運行中溫(wen)度波(bo)動(dong)應控制...

簡易(yi)型原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡是壹(yi)種常見的表面分(fen)析(xi)工(gong)具，廣(guang)泛(fan)應用(yong)於(yu)材料科學、生物(wu)學、化(hua)學等多個(ge)領域。它(ta)利(li)用(yong)探針與樣(yang)品(pin)表(biao)面相互作(zuo)用(yong)的原(yuan)理(li)，能(neng)夠(gou)在(zai)納(na)米尺度上(shang)獲(huo)得樣(yang)品(pin)的(de)表(biao)面形(xing)貌和(he)力學特性。與傳(chuan)統(tong)的(de)電(dian)子(zi)顯微鏡相比，AFM不(bu)需要復(fu)雜(za)的(de)真空(kong)環(huan)境，並且(qie)能(neng)夠(gou)直接在(zai)液體...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡作為納(na)米級表面表征(zheng)的(de)核心工(gong)具，其(qi)選購(gou)需綜(zong)合(he)科研需(xu)求、設備(bei)性(xing)能(neng)及(ji)長期使(shi)用(yong)的可靠(kao)性。以(yi)下(xia)從(cong)核心(xin)性能(neng)參(can)數、環(huan)境適配(pei)性、擴展功能(neng)與兼(jian)容(rong)性(xing)、品(pin)牌(pai)服(fu)務(wu)與(yu)預(yu)算四方面梳(shu)理關(guan)鍵(jian)細節(jie)。​壹(yi)、核(he)心性能(neng)：決(jue)定(ding)觀(guan)測(ce)能(neng)力的(de)基(ji)石​1.垂直與橫(heng)向(xiang)分(fen)辨(bian)率：垂直方...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡是壹(yi)種超高分(fen)辨(bian)率的顯微鏡，能(neng)夠(gou)在(zai)納(na)米尺度上(shang)進行物(wu)質表(biao)面的成(cheng)像(xiang)和分(fen)析(xi)。它主要通(tong)過(guo)壹(yi)個(ge)尖(jian)銳的探針與樣(yang)品(pin)表(biao)面相互作(zuo)用(yong)，利(li)用(yong)探針的形(xing)變來(lai)獲(huo)取(qu)表面信(xin)息。膠(jiao)體探針通(tong)常用(yong)於(yu)AFM的(de)表(biao)面探測(ce)和力(li)學測(ce)量(liang)，尤(you)其(qi)在(zai)研究(jiu)膠(jiao)體物(wu)質、液(ye)體界面、細胞(bao)和(he)生物(wu)樣(yang)...

原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡是壹(yi)種用(yong)於(yu)表(biao)面形(xing)貌觀(guan)察(cha)的高分(fen)辨(bian)率顯微技術(shu)。它(ta)利(li)用(yong)物(wu)理探針與樣(yang)品(pin)表(biao)面的相互作(zuo)用(yong)來(lai)獲(huo)得表(biao)面形(xing)貌圖(tu)像，不(bu)依(yi)賴(lai)於(yu)光(guang)學成像，因此(ci)能(neng)夠(gou)以(yi)高(gao)的(de)空(kong)間(jian)分(fen)辨(bian)率觀測(ce)樣(yang)品(pin)。傳(chuan)統(tong)的(de)原(yuan)子(zi)力(li)顯微鏡價(jia)格較(jiao)高(gao)，操(cao)作復(fu)雜(za)，對(dui)環(huan)境要求(qiu)嚴(yan)格。然(ran)而，隨(sui)著技術(shu)的(de)進步和(he)需求(qiu)...