簡要(yao)描述(shu)：納(na)米掃描探針(zhen)顯微鏡可以在(zai)不(bu)破壞(huai)樣(yang)品內(nei)部結構(gou)的(de)情況下觀測樣品(pin)微區三維形(xing)貌和多相(xiang)結構(gou)（納(na)米級別）；同時(shi)可對(dui)樣品(pin)表面物(wu)理化(hua)學特性進(jin)行研(yan)究，數(shu)值(zhi)測定與分析(xi)。
產(chan)品(pin)型號(hao)：廠商性質：生產(chan)廠(chang)家更新(xin)時(shi)間：2025-01-17訪(fang) 問(wen) 量(liang)：5634產品(pin)目(mu)錄
相(xiang)關(guan)文(wen)章
| 品牌 | 其(qi)他(ta)品牌 | 儀器(qi)種(zhong)類 | 原子(zi)力顯微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面(mian)議(yi) | 產(chan)地類別 | 進(jin)口 |
| 應用領域 | 食品/農(nong)產品(pin),化(hua)工,生物產(chan)業(ye),能(neng)源,制藥/生物(wu)制(zhi)藥 |
納(na)米掃描探針(zhen)顯微鏡工作(zuo)模式(shi)：
1. 標(biao)準(zhun)工作(zuo)模式(shi)：
1.1 輕(qing)敲(qiao)模(mo)式(shi)(Vibration mode)
1.2 接觸模(mo)式(shi)(Contact mode)
1.3 相(xiang)位成像(xiang)模(mo)式(shi)(Phase imaging)
1.4 橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)
1.5 力(li)曲(qu)線(xian)測試(shi)（Force curve）可測楊氏模(mo)量(liang)
1.6 納(na)米操控 （Nanomanipulation）
1.7 納(na)米刻(ke)蝕 （Nanolithography）
1.8 力(li)矩(ju)陣模式(shi) （Force Mapping）
1.9 摩(mo)擦(ca)力(li)測試(shi) （Friction Mode）
2. 可(ke)選(xuan)工作(zuo)模式(shi)：
2.1 磁力(li)顯微鏡模式(shi)（MFM mode）
2.2 靜(jing)電(dian)力(li)顯微鏡模式(shi)（EFM mode）
2.3 導(dao)電(dian)顯微鏡模式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液(ye)相(xiang)模式(shi) （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是(shi)專(zhuan)門(men)從(cong)事設(she)計(ji)和制造原子(zi)力顯微鏡的(de)專業(ye)化(hua)公司 。公司創始人是(shi)有(you)30年(nian)原子(zi)力顯微鏡經驗的(de) Paul West博(bo)士(shi)，原子(zi)力顯微鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者(zhe)。
納(na)米掃描探針(zhen)顯微鏡技(ji)術(shu)參數
掃描範圍：100 μm，50 μm，15μm
Z方(fang)向(xiang)範圍：17 μm，7 μm
XY方(fang)向(xiang)驅(qu)動分辨率：0.01 nm
Z方(fang)向(xiang)驅(qu)動分辨率：0.003 nm
Z方(fang)向(xiang)測量噪(zao)音(yin)水(shui)平：0.15 nm
樣(yang)品(pin)尺寸：直徑25mm
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