低(di)溫掃描(miao)探針(zhen)顯微(wei)鏡(jing)

HR-AFM低(di)溫掃描(miao)探針(zhen)顯微(wei)鏡(jing)是(shi)壹(yi)款專業級(ji)的原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)，Z軸(zhou)噪(zao)音低(di)於35皮米。該設(she)備可以在不(bu)破(po)壞樣品內(nei)部結(jie)構的情況(kuang)下(xia)觀測樣品微區(qu)三維形貌(mao)和多相(xiang)結構；同時可對樣品表面(mian)物(wu)理(li)化(hua)學特性進(jin)行研究(jiu)，數(shu)值(zhi)測定與分(fen)析。

國內(nei)生(sheng)產(chan)的HR-AFM原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)

標(biao)準工作模(mo)式：輕(qing)敲(qiao)模式(Vibration mode)，接(jie)觸(chu)模式 (Contact mode)，相位(wei)成(cheng)像模式(shi) (Phase imaging)，橫向力(li)模(mo)式 (LFM)，力(li)曲(qu)線(xian)測試（Force Curve），納米(mi)操(cao)控(kong) （Nanomanipulation），納米(mi)刻(ke)蝕 （Nanolithography），力(li)矩(ju)陣模式(shi) （Force Mapping），摩擦力(li)測試 （Friction Mode）

可選工作模(mo)式(shi)：導(dao)電原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁(ci)力(li)顯微(wei)鏡(jing)（MFM），靜電力(li)顯微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃描(miao)電勢顯微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

低(di)溫掃描(miao)探針(zhen)顯微(wei)鏡(jing)具(ju)有(you)軟(ruan)件(jian)自動(dong)進(jin)針(zhen)功(gong)能(neng)。通過(guo)軟(ruan)件(jian)控制(zhi)Z方向馬達(da)實(shi)現(xian)探針(zhen)自(zi)動(dong)進(jin)針(zhen)

X,Y,Z三軸分(fen)離的掃描(miao)器。

掃描(miao)範圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分(fen)辨率(lv)0.035nm

樣品臺(tai)尺(chi)寸(cun)：25mm*25mm*18mm

操(cao)作(zuo)軟件(jian)：使用Laview環(huan)境(jing)語(yu)言(yan)控(kong)制(zhi)，免(mian)費提(ti)供操(cao)作(zuo)軟件(jian)，並(bing)提(ti)供維(wei)護(hu)及(ji)升(sheng)級(ji)

提(ti)供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分(fen)析系(xi)統(tong)

頂(ding)視(shi)系(xi)統(tong)光學分(fen)辨率(lv)≤2微米(mi)

視場範圍(wei)從2mm*2mm到(dao)300um*300um可調，放大倍(bei)率(lv)從45倍(bei)到(dao)400倍(bei)機械可調

側視(shi)系統(tong)，提(ti)供可視化(hua)下(xia)針(zhen)，可以通過(guo)電(dian)腦精(jing)確觀察控制(zhi)下(xia)針(zhen)過(guo)程，防止(zhi)撞針(zhen)