spm掃(sao)描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)

spm掃(sao)描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)是(shi)壹(yi)款專業(ye)級(ji)的(de)原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)，Z軸(zhou)噪(zao)音低(di)於35皮米。該設備可以在不破(po)壞(huai)樣品內(nei)部結構的(de)情況(kuang)下觀測(ce)樣品微(wei)區三維(wei)形貌(mao)和(he)多(duo)相結構；同時可對樣品表(biao)面(mian)物(wu)理化學(xue)特(te)性(xing)進(jin)行研究(jiu)，數(shu)值(zhi)測(ce)定與分析(xi)。

國內(nei)生產的(de)HR-AFM原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)

標(biao)準(zhun)工作模式(shi)：輕敲(qiao)模式(shi)(Vibration mode)，接(jie)觸(chu)模式(shi) (Contact mode)，相位(wei)成(cheng)像模式(shi) (Phase imaging)，橫向(xiang)力模式(shi) (LFM)，力曲線(xian)測(ce)試（Force Curve），納(na)米操(cao)控 （Nanomanipulation），納(na)米刻蝕(shi) （Nanolithography），力矩陣模式(shi) （Force Mapping），摩擦(ca)力測(ce)試 （Friction Mode）

可選(xuan)工作模式(shi)：導電原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁(ci)力顯微(wei)鏡(jing)（MFM），靜(jing)電力顯微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃(sao)描電勢(shi)顯微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

spm掃(sao)描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)具(ju)有(you)軟件(jian)自(zi)動進(jin)針功能(neng)。通(tong)過(guo)軟件(jian)控制(zhi)Z方(fang)向馬達(da)實現(xian)探(tan)針自(zi)動進(jin)針

X,Y,Z三軸(zhou)分離(li)的(de)掃(sao)描器(qi)

掃(sao)描範圍(wei) 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸(cun)：25mm*25mm*18mm

操(cao)作軟(ruan)件(jian)：使用(yong)Laview環(huan)境(jing)語言(yan)控(kong)制(zhi)，免費提(ti)供(gong)操(cao)作軟(ruan)件(jian)，並提供(gong)維(wei)護(hu)及(ji)升級(ji)

提供(gong)Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析(xi)系統(tong)

頂視系(xi)統(tong)光(guang)學(xue)分辨率≤2微(wei)米

視場範圍(wei)從2mm*2mm到300um*300um可(ke)調(tiao)，放(fang)大(da)倍率(lv)從45倍(bei)到400倍(bei)機械(xie)可調(tiao)

側視系(xi)統(tong)，提(ti)供(gong)可視化下針，可(ke)以通(tong)過(guo)電腦(nao)精確觀(guan)察(cha)控制下針過(guo)程，防止(zhi)撞(zhuang)針