簡(jian)要描(miao)述(shu)：葛蘭(lan)帕NP-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)AFMWorkshop是壹臺納(na)米分(fen)析儀器，用(yong)於(yu)樣品(pin)表面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)和樣(yang)品(pin)微(wei)尺(chi)度(du)分(fen)析。主(zhu)要(yao)應用包括(kuo)工(gong)藝(yi)開發(fa)和技術(shu)樣品(pin)制作(zuo)的過(guo)程控制(zhi)。
產品(pin)型號(hao)：廠(chang)商性(xing)質：生(sheng)產(chan)廠(chang)家(jia)更新(xin)時(shi)間(jian)：2025-01-17訪(fang) 問 量：9289產(chan)品(pin)目錄
相關(guan)文(wen)章(zhang)
| 品(pin)牌(pai) | 其(qi)他(ta)品(pin)牌(pai) | 儀器種(zhong)類(lei) | 原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing) |
|---|---|---|---|
| 價(jia)格(ge)區(qu)間 | 面議 | 產地類(lei)別(bie) | 進(jin)口 |
| 應(ying)用(yong)領域 | 食(shi)品(pin)/農產(chan)品(pin),化工(gong),生(sheng)物(wu)產(chan)業(ye),能(neng)源(yuan),制(zhi)藥(yao)/生(sheng)物(wu)制(zhi)藥(yao) |
NP-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)
主(zhu)要(yao)優勢：
1、全(quan)新(xin)設(she)計的KMD運動(dong)學(xue)結構，降(jiang)低了噪音水平，輕松實現(xian)原(yuan)子級分(fen)辨率。
2、提(ti)供(gong)可(ke)視(shi)化下(xia)針系(xi)統(tong)，操(cao)作簡(jian)單，對新(xin)手友好。
3、提(ti)高了掃(sao)描(miao)速(su)度(du)，10秒(miao)出圖。
1.標(biao)準工(gong)作模式(shi)：
1.1輕(qing)敲(qiao)模式(shi)(Vibration mode)
1.2接觸(chu)模式(shi) (Contact mode)
1.3相(xiang)位(wei)成(cheng)像(xiang)模式(shi) (Phase imaging)
1.4橫(heng)向力模式(shi) (Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲(qu)線(xian)測試（Force curve）可(ke)測(ce)楊氏(shi)模量
1.6 納(na)米(mi)操(cao)控 （Nanomanipulation）
1.7 納(na)米(mi)刻(ke)蝕 （Nanolithography）
1.8 力矩(ju)陣(zhen)模式(shi) （Force Mapping）
1.9 摩(mo)擦(ca)力測(ce)試(shi) （Friction Mode）
2. 可(ke)選工(gong)作模式(shi)：
2.1 磁(ci)力顯微(wei)鏡(jing)模式(shi)（MFM mode）
2.2 靜(jing)電(dian)力顯微(wei)鏡(jing)模式(shi)（EFM mode）
2.3 導(dao)電(dian)顯微(wei)鏡(jing)模式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液相(xiang)模式(shi) （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門從事(shi)設(she)計和制(zhi)造(zao)原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)的專業(ye)化公司 。公司創始(shi)人是有30年(nian)原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)經(jing)驗的 Paul West博士，原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的作者。
掃(sao)描(miao)範(fan)圍(wei)：100 μm，50 μm，15μmZ方(fang)向範(fan)圍(wei)：17 μm，7 μmXY方(fang)向驅(qu)動(dong)分(fen)辨率：0.01 nmZ方(fang)向驅(qu)動(dong)分(fen)辨率：0.003 nmZ方(fang)向測(ce)量噪(zao)音水平：0.03 nm樣品(pin)尺寸(cun)：直(zhi)徑(jing)25
上(shang)壹篇(pian)：葛蘭(lan)帕 AFMWorkshopTT2-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)
下(xia)壹篇(pian)：葛蘭(lan)帕科技MWorkshopHR-AFMAF 原(yuan)子力顯微(wei)鏡(jing)
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