簡要(yao)描(miao)述(shu)：便(bian)攜(xie)式(shi)原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)可以(yi)在(zai)不(bu)破(po)壞樣(yang)品內部(bu)結構的(de)情況下觀測樣(yang)品微(wei)區三(san)維(wei)形貌和(he)多(duo)相(xiang)結構（納(na)米(mi)級別）；同(tong)時可對樣(yang)品表面(mian)物理化(hua)學特(te)性進行研究，數值(zhi)測定與分析。
產品型號：廠商(shang)性質：生產廠家(jia)更(geng)新(xin)時(shi)間(jian)：2025-01-17訪(fang) 問(wen) 量：5531產品目(mu)錄(lu)
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| 品牌 | 其(qi)他品牌 | 儀(yi)器種(zhong)類 | 原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing) |
|---|---|---|---|
| 價格(ge)區間 | 面(mian)議(yi) | 產地類別(bie) | 進(jin)口(kou) |
| 應(ying)用領(ling)域 | 食(shi)品/農產品,化工(gong),生(sheng)物產業(ye),能源,制(zhi)藥/生物制(zhi)藥 |
便(bian)攜(xie)式(shi)原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)工作(zuo)模式(shi)：
1.標(biao)準工作(zuo)模式(shi)：
1.1輕(qing)敲模式(shi)(Vibration mode)
1.2接(jie)觸(chu)模式(shi)(Contact mode)
1.3相(xiang)位(wei)成像模式(shi)(Phase imaging)
1.4橫向力模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力曲線(xian)測試(shi)（Force curve）可測楊(yang)氏模量(liang)
1.6納(na)米(mi)操控(kong) （Nanomanipulation）
1.7納(na)米(mi)刻(ke)蝕 （Nanolithography）
1.8力矩陣(zhen)模式(shi) （Force Mapping）
1.9摩(mo)擦(ca)力測試(shi) （Friction Mode）
2. 可選工作(zuo)模式(shi)：
2.1 磁(ci)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)模式(shi)（MFM mode）
2.2 靜(jing)電力顯(xian)微(wei)鏡(jing)模式(shi)（EFM mode）
2.3 導(dao)電顯(xian)微(wei)鏡(jing)模式(shi)（C-AFM mode）
2.4 液相模式(shi) （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是(shi)專門從事(shi)設計(ji)和(he)制(zhi)造(zao)原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)的(de)專業(ye)化公(gong)司 。公(gong)司創(chuang)始人是(shi)有30年(nian)原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)經驗(yan)的(de) Paul West博(bo)士(shi)，原子(zi)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)教材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者(zhe)。
便(bian)攜(xie)式(shi)原子(zi)力顯(xian)微(wei)技(ji)術(shu)參(can)數
掃(sao)描(miao)範圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm
Z方向範圍(wei)：17 μm，7 μm
XY方向驅(qu)動(dong)分辨率(lv)：0.01 nm
Z方向驅(qu)動(dong)分辨率(lv)：0.003 nm
Z方向測量噪(zao)音水平：0.15 nm
樣(yang)品尺(chi)寸(cun)：直徑25mm
QQ：
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傳(chuan)真(zhen)：
地址：杭州(zhou)市(shi)濱江(jiang)區江(jiang)南大道(dao)3778號元天科(ke)技(ji)大廈A6004室(shi)
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