低(di)溫掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)是(shi)壹(yi)種(zhong)結(jie)合了掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)（SPM）技(ji)術(shu)和低(di)溫環境的(de)先進(jin)顯(xian)微技(ji)術(shu)。SPM已被廣泛(fan)應(ying)用(yong)於納(na)米(mi)尺(chi)度(du)的(de)表面(mian)成(cheng)像(xiang)、物(wu)理(li)特性(xing)探測(ce)和納(na)米(mi)結(jie)構操(cao)作等領域，而(er)低(di)溫環境則能夠有(you)效(xiao)地增強材料(liao)的(de)電學(xue)、磁(ci)學、力(li)學(xue)和(he)光(guang)學特性(xing)，尤(you)其在量(liang)子(zi)物(wu)理(li)、材料(liao)科學、表面(mian)科學等前(qian)沿領域中具(ju)有(you)不(bu)可(ke)替(ti)代(dai)的(de)優勢(shi)。LT-SPM能夠在低(di)溫下進(jin)行高(gao)分辨(bian)率......

快(kuai)速(su)掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)是(shi)壹(yi)種(zhong)通過尖(jian)探針(zhen)掃(sao)描樣(yang)品(pin)表面(mian)，獲(huo)取(qu)表面(mian)信(xin)息(xi)的(de)顯(xian)微鏡(jing)。SPM的(de)原(yuan)理(li)依賴於探針(zhen)與(yu)樣品(pin)表面(mian)之(zhi)間(jian)的(de)相互(hu)作用(yong)力(li)，如(ru)範(fan)德(de)華(hua)力(li)、電場(chang)力(li)、磁(ci)場力(li)等。常見(jian)的(de)SPM包括原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)（AFM）和(he)掃(sao)描隧(sui)道(dao)顯(xian)微鏡(jing)（STM）。這(zhe)些(xie)技(ji)術(shu)通過在微米(mi)甚(shen)至(zhi)納(na)米(mi)尺(chi)度(du)上(shang)精(jing)確(que)移動探針(zhen)，記(ji)錄(lu)與(yu)樣品(pin)表面(mian)相(xiang)互(hu)作用(yong)的(de)微弱力(li)，從(cong)而(er)獲(huo)得(de)表面(mian)形(xing)貌、物(wu)理(li)和化(hua)......

簡易(yi)型(xing)原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)（AFM）是(shi)壹(yi)種(zhong)能(neng)夠提供高分辨(bian)率表面(mian)成(cheng)像(xiang)、測(ce)量以及表面(mian)力(li)學(xue)性(xing)質(zhi)分析的(de)先進(jin)工(gong)具(ju)。相(xiang)比傳(chuan)統的(de)光(guang)學顯(xian)微鏡(jing)，AFM在觀(guan)察(cha)物(wu)體表面(mian)時具(ju)有(you)更(geng)高(gao)的(de)分辨(bian)率，甚(shen)至(zhi)可(ke)以達到(dao)原(yuan)子(zi)級別。因(yin)此，AFM不(bu)僅在基(ji)礎科學研(yan)究(jiu)中具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)應(ying)用，還在材(cai)料(liao)科學、生(sheng)命科學等領域發(fa)揮著(zhe)越(yue)來(lai)越(yue)重(zhong)要(yao)的(de)作用(yong)。簡易(yi)型(xing)原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡(jing)的(de)主(zhu)要部分組成(cheng)：1.探針(zhen)......

低(di)溫掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)是(shi)研(yan)究納(na)米(mi)材料(liao)、量(liang)子(zi)效(xiao)應(ying)以及低(di)溫物(wu)理(li)現象的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具(ju)。它(ta)結(jie)合了掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)（SPM）技(ji)術(shu)與(yu)低(di)溫環境，能夠在極(ji)低(di)的(de)溫度(du)下對(dui)物(wu)質(zhi)表面(mian)的(de)性質(zhi)進(jin)行高(gao)分辨(bian)率的(de)觀察(cha)和(he)測(ce)量。在物(wu)理(li)、材料(liao)科學、半(ban)導(dao)體(ti)制(zhi)造(zao)和量子(zi)計(ji)算(suan)等領域具(ju)有(you)重(zhong)要(yao)的(de)應用(yong)價(jia)值。低(di)溫掃(sao)描探針(zhen)顯(xian)微鏡(jing)的(de)低(di)溫環境主(zhu)要通過液氮(dan)或液氦(hai)冷(leng)卻系統提供。低(di)溫下，材(cai)料(liao)的(de)電子(zi)......