快(kuai)速掃(sao)描(miao)探針顯微鏡(jing)

HR-AFM快速掃(sao)描(miao)探針顯微鏡(jing)是(shi)壹款專(zhuan)業(ye)級的(de)高分(fen)辨(bian)率原子力顯微鏡(jing)，Z軸(zhou)噪音(yin)低於(yu)35皮(pi)米。該設備(bei)可(ke)以(yi)在(zai)不破(po)壞樣(yang)品內(nei)部結構的情況下觀測樣(yang)品微區三維形(xing)貌和多(duo)相(xiang)結構；同(tong)時(shi)可(ke)對(dui)樣(yang)品表(biao)面物(wu)理(li)化(hua)學(xue)特性進行(xing)研(yan)究(jiu)，數值(zhi)測定(ding)與(yu)分(fen)析(xi)。

國內生(sheng)產的(de)HR-AFM原子力顯微鏡(jing)

標準工(gong)作(zuo)模(mo)式(shi)：輕敲(qiao)模(mo)式(shi)(Vibration mode)，接觸(chu)模(mo)式(shi) (Contact mode)，相(xiang)位成(cheng)像(xiang)模(mo)式(shi) (Phase imaging)，橫(heng)向(xiang)力模(mo)式(shi) (LFM)，力曲(qu)線測試(shi)（Force Curve），納米操控(kong) （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力矩(ju)陣(zhen)模(mo)式(shi) （Force Mapping），摩擦力測試(shi) （Friction Mode）

可(ke)選工(gong)作(zuo)模(mo)式(shi)：導電原子力顯微鏡(jing) （C-AFM），磁(ci)力顯微鏡(jing)（MFM），靜(jing)電力顯微鏡(jing)（EFM）,掃(sao)描電勢顯微鏡(jing)（SKPM）。

快速掃(sao)描(miao)探針顯微鏡(jing)具(ju)有軟(ruan)件(jian)自(zi)動進針功能。通過(guo)軟(ruan)件(jian)控制Z方(fang)向(xiang)馬(ma)達(da)實(shi)現(xian)探(tan)針自(zi)動進針

X,Y,Z三軸(zhou)分離(li)的掃(sao)描器。

掃描範(fan)圍(wei) 100×100×17μm

Z軸(zhou)分辨(bian)率0.035nm

樣(yang)品臺(tai)尺(chi)寸(cun)：25mm*25mm*18mm

操作(zuo)軟件(jian)：使用(yong)Laview環境(jing)語(yu)言(yan)控(kong)制(zhi)，免(mian)費提(ti)供(gong)操作(zuo)軟件(jian)，並提供(gong)維(wei)護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據分(fen)析(xi)系(xi)統(tong)

頂視(shi)系(xi)統(tong)光學(xue)分(fen)辨率(lv)≤2微米(mi)

視(shi)場範(fan)圍(wei)從2mm*2mm到300um*300um可(ke)調，放大倍(bei)率從45倍(bei)到400倍(bei)機械(xie)可(ke)調

側視(shi)系(xi)統(tong)，提(ti)供(gong)可(ke)視(shi)化下(xia)針，可(ke)以(yi)通過(guo)電(dian)腦精確(que)觀察(cha)控制(zhi)下針過(guo)程(cheng)，防止(zhi)撞(zhuang)針