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        1. 您(nin)的(de)位置(zhi): 首(shou)頁(ye) > 產(chan)品中心(xin) > 原(yuan)子力顯微(wei)鏡 > AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡 > 葛(ge)蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡AFMWorkshop

          葛(ge)蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡AFMWorkshop

          簡(jian)要描(miao)述(shu):提供(gong)原(yuan)子力顯微(wei)鏡定制(zhi)服(fu)務。葛(ge)蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡AFMWorkshop是壹(yi)個(ge)與倒置(zhi)光學(xue)顯微(wei)鏡聯(lian)合(he)的用於(yu)生(sheng)命科(ke)學(xue)和(he)生(sheng)物材(cai)料(liao)樣品(pin)研究顯微(wei)鏡。 是壹(yi)個(ge)針式掃描(miao)的原(yuan)子力顯微(wei)鏡。它(ta)包括電(dian)子控制(zhi)器,光杠桿光學(xue)探(tan)測(ce),光學(xue)顯微(wei)鏡,用於(yu)查看針尖和(he)樣品的(de)位置(zhi),獲(huo)取圖(tu)像結(jie)果和(he)後(hou)處(chu)理的(de)軟件(jian)。該系統具有(you)在(zai)原(yuan)子力顯微(wei)鏡XY軸(zhou)上相對於倒置(zhi)顯微(wei)鏡來(lai)定位樣(yang)品(pin)。樣品(pin)臺適(shi)用於(yu)培(pei)養皿,載玻(bo)片(pian)和(he)標準AFM樣品(pin)臺.

          • 產(chan)品型(xing)號:
          • 廠(chang)商性質(zhi):生(sheng)產(chan)廠家(jia)
          • 更(geng)新時(shi)間:2025-01-17
          • 訪  問  量:6762
          詳細介紹(shao)
          品(pin)牌(pai)其(qi)他品牌儀(yi)器種(zhong)類原(yuan)子力顯微(wei)鏡
          價(jia)格(ge)區間面(mian)議(yi)產(chan)地類別(bie)進(jin)口(kou)
          應(ying)用領(ling)域(yu)食(shi)品/農(nong)產(chan)品,化工,能源(yuan),電(dian)子/電(dian)池(chi),制(zhi)藥/生(sheng)物制(zhi)藥

          葛(ge)蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡AFMWorkshop工作(zuo)模式

          1. 標(biao)準工作(zuo)模式:

          1.1 輕(qing)敲模式(Vibration mode)

          1.2 接觸(chu)模式(Contact mode)

          1.3 相(xiang)位成(cheng)像模式(Phase imaging)

          1.4 橫向(xiang)力(li)模式(Lateral force Microscopy LFM)

          1.5 力(li)曲線測試(shi)(Force curve)可測楊氏(shi)模量

          1.6 納米(mi)操(cao)控 (Nanomanipulation)

          1.7 納米(mi)刻(ke)蝕(shi) (Nanolithography)

          1.8 力(li)矩陣(zhen)模式 (Force Mapping)

          1.9 摩(mo)擦力測試(shi) (Friction Mode)

          2. 可選工作(zuo)模式:

          2.1 磁力顯微(wei)鏡模式(MFM mode)

          2.2 靜電(dian)力(li)顯微(wei)鏡模式(EFM mode)

          2.3 導(dao)電(dian)顯微(wei)鏡模式(C-AFM mode)

          2.4 液相模式 (Liquid scan mode)

           

          AFMWorkshop是專(zhuan)門(men)從事(shi)設計(ji)和(he)制(zhi)造原(yuan)子力顯微(wei)鏡的(de)專(zhuan)業化(hua)公司(si) 。公司(si)創始人是有(you)30年(nian)原(yuan)子力顯微(wei)鏡經(jing)驗(yan)的(de) Paul West博(bo)士,原(yuan)子力顯微(wei)鏡教(jiao)材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者。

          葛(ge)蘭帕LS-AFM原(yuan)子力顯微(wei)鏡AFMWorkshop技術(shu)參(can)數(shu)

           

          掃(sao)描(miao)範圍:100 μm,50 μm,15μm

          Z方向(xiang)範圍:17 μm,7 μm

          XY方向(xiang)驅動(dong)分(fen)辨率(lv):0.01 nm

          Z方向(xiang)驅動(dong)分(fen)辨率(lv):0.003 nm

          Z方向(xiang)測(ce)量噪音水平:0.15 nm

          樣(yang)品(pin)尺(chi)寸:直徑(jing)25mm

           

          產(chan)品咨(zi)詢

          留(liu)言框(kuang)

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