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          • 多(duo)功能掃描(miao)探(tan)針顯微(wei)鏡
            多(duo)功能掃描(miao)探(tan)針顯微(wei)鏡HR-AFM是(shi)壹(yi)款(kuan)專(zhuan)業級(ji)的(de)原子力顯微(wei)鏡,Z軸噪音(yin)低(di)於35皮米(mi)。該(gai)設(she)備(bei)可(ke)以在不(bu)破(po)壞樣品(pin)內(nei)部結(jie)構(gou)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)觀測(ce)樣品(pin)微(wei)區三(san)維形貌和多(duo)相結(jie)構(gou);同時可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)表面物理化學(xue)特(te)性進(jin)行(xing)研究(jiu),數值(zhi)測(ce)定與(yu)分(fen)析(xi)。
            更新(xin)時(shi)間:2025-01-17型(xing)號:廠商(shang)性質(zhi):生產廠家
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          • 快(kuai)速(su)掃描(miao)探(tan)針顯微(wei)鏡
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            便(bian)攜(xie)式原子力顯微(wei)鏡可(ke)以在不(bu)破(po)壞樣品(pin)內(nei)部結(jie)構(gou)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)觀測(ce)樣品(pin)微(wei)區三(san)維形貌和多(duo)相結(jie)構(gou)(納米級(ji)別);同時可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)表面物理化學(xue)特(te)性進(jin)行(xing)研究(jiu),數值(zhi)測(ce)定與(yu)分(fen)析(xi)。
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            AFM拉曼(man)聯用系統(tong)可(ke)以在不(bu)破(po)壞樣品(pin)內(nei)部結(jie)構(gou)的(de)情(qing)況(kuang)下(xia)觀測(ce)樣品(pin)微(wei)區三(san)維形貌和多(duo)相結(jie)構(gou)(納米級(ji)別);同時可(ke)對(dui)樣(yang)品(pin)表面物理化學(xue)特(te)性進(jin)行(xing)研究(jiu),數值(zhi)測(ce)定與(yu)分(fen)析(xi)。
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