AFM拉曼(man)聯(lian)用系(xi)統(tong)

AFM拉(la)曼(man)聯(lian)用系(xi)統(tong)工作(zuo)模式(shi)：

1.標(biao)準工作(zuo)模式(shi)：

1.1輕(qing)敲模式(shi)(Vibration mode)

1.2接觸模式(shi)(Contact mode)

1.3相(xiang)位(wei)成(cheng)像模式(shi)(Phase imaging)

1.4橫(heng)向(xiang)力(li)模式(shi)(Lateral force Microscopy LFM)

1.5力(li)曲(qu)線測試（Force curve）可(ke)測楊氏模量(liang)

1.6納(na)米(mi)操控(kong) （Nanomanipulation）

1.7納米刻蝕(shi) （Nanolithography）

1.8力(li)矩陣模式(shi) （Force Mapping）

1.9摩擦(ca)力(li)測試 （Friction Mode）

2. 可(ke)選(xuan)工作(zuo)模式(shi)：

2.1 磁(ci)力(li)顯(xian)微鏡(jing)模式(shi)（MFM mode）

2.2 靜(jing)電(dian)力顯(xian)微(wei)鏡(jing)模式(shi)（EFM mode）

2.3 導(dao)電(dian)顯微(wei)鏡(jing)模式(shi)（C-AFM mode）

2.4 液(ye)相(xiang)模式(shi) （Liquid scan mode）

AFMWorkshop是專(zhuan)門(men)從(cong)事設計和(he)制(zhi)造原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡的(de)專(zhuan)業(ye)化公司 。公司創(chuang)始(shi)人(ren)是有(you)30年(nian)原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡經驗(yan)的(de) Paul West博(bo)士(shi)，原(yuan)子(zi)力(li)顯(xian)微鏡教(jiao)材《Atomic Forces Microscopes》的(de)作(zuo)者。

AFM拉曼(man)聯(lian)用系(xi)統(tong)技術(shu)參數(shu)

掃(sao)描範(fan)圍(wei)：100 μm，50 μm，15μm

Z方向(xiang)範(fan)圍(wei)：17 μm，7 μm

XY方向(xiang)驅動分(fen)辨率(lv)：0.01 nm

Z方向(xiang)驅動分(fen)辨率(lv)：0.003 nm

Z方向(xiang)測量(liang)噪(zao)音水(shui)平：0.15 nm

樣(yang)品(pin)尺寸(cun)：直徑25mm