多(duo)功(gong)能原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)

HR-AFM是(shi)壹(yi)款(kuan)專業(ye)級的多(duo)功(gong)能原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)，Z軸噪(zao)音(yin)低於35皮(pi)米。該設備可以在不破(po)壞(huai)樣品內部結(jie)構(gou)的情(qing)況(kuang)下觀(guan)測樣品微(wei)區三(san)維(wei)形(xing)貌(mao)和多(duo)相(xiang)結(jie)構(gou)；同(tong)時可對(dui)樣品表(biao)面(mian)物(wu)理(li)化(hua)學特(te)性進行(xing)研究(jiu)，數(shu)值(zhi)測定與分析。

國內生產(chan)的HR-AFM原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)

標(biao)準工作模式：輕(qing)敲模(mo)式(Vibration mode)，接(jie)觸(chu)模(mo)式 (Contact mode)，相位(wei)成(cheng)像模式 (Phase imaging)，橫向力(li)模(mo)式 (LFM)，力(li)曲線測試（Force Curve），納米操控 （Nanomanipulation），納米刻蝕 （Nanolithography），力(li)矩(ju)陣(zhen)模(mo)式 （Force Mapping），摩(mo)擦(ca)力(li)測試 （Friction Mode）

可選(xuan)工作模式：導(dao)電(dian)原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing) （C-AFM），磁力(li)顯微(wei)鏡(jing)（MFM），靜(jing)電(dian)力(li)顯微(wei)鏡(jing)（EFM）,掃描(miao)電(dian)勢(shi)顯微(wei)鏡(jing)（SKPM）。

多(duo)功(gong)能原(yuan)子(zi)力(li)顯微(wei)鏡(jing)具有(you)軟件(jian)自動(dong)進針(zhen)功(gong)能。通(tong)過(guo)軟件(jian)控制Z方(fang)向(xiang)馬(ma)達(da)實現探針(zhen)自動(dong)進針(zhen)

X,Y,Z三軸(zhou)分離(li)的掃(sao)描(miao)器(qi)。

掃描(miao)範(fan)圍 100×100×17μm

Z軸分(fen)辨率(lv)0.035nm

樣品臺尺(chi)寸：25mm*25mm*18mm

操作軟件(jian)：使用(yong)Laview環境語言(yan)控制，免(mian)費(fei)提供操(cao)作軟件(jian)，並提供維(wei)護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shu)據(ju)分析(xi)系統

頂視(shi)系(xi)統光學分(fen)辨率(lv)≤2微(wei)米

視(shi)場(chang)範(fan)圍從(cong)2mm*2mm到300um*300um可調(tiao)，放(fang)大倍(bei)率(lv)從(cong)45倍(bei)到(dao)400倍(bei)機(ji)械可調

側視(shi)系(xi)統，提供可(ke)視(shi)化(hua)下(xia)針(zhen)，可(ke)以通過電(dian)腦(nao)精(jing)確(que)觀(guan)察控(kong)制下(xia)針(zhen)過(guo)程(cheng)，防止(zhi)撞(zhuang)針(zhen)