簡(jian)易(yi)型原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)是壹(yi)個(ge)與(yu)倒置(zhi)光(guang)學(xue)顯微(wei)鏡聯合的用(yong)於(yu)生(sheng)命(ming)科(ke)學(xue)和生(sheng)物材料(liao)樣品研究顯(xian)微(wei)鏡。 是壹(yi)個(ge)針(zhen)式掃(sao)描的(de)原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)。它包(bao)括(kuo)電(dian)子控制(zhi)器，光(guang)杠桿光(guang)學(xue)探(tan)測，光(guang)學(xue)顯微(wei)鏡，用(yong)於(yu)查(zha)看(kan)針(zhen)尖和樣品的位(wei)置(zhi)，獲取圖(tu)像結果和後處(chu)理的(de)軟(ruan)件。該系統具(ju)有(you)在(zai)原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)XY軸上相對於(yu)倒置(zhi)顯微(wei)鏡來(lai)定位樣品。樣品臺(tai)適(shi)用(yong)於(yu)培(pei)養皿(min)，載玻片(pian)和(he)標(biao)準(zhun)AFM樣品臺(tai).

緊(jin)湊(cou)型原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)可以(yi)在(zai)不破壞(huai)樣品內部(bu)結構(gou)的(de)情(qing)況下觀(guan)測樣品微區(qu)三(san)維形貌和多(duo)相結構(gou)（納(na)米(mi)級(ji)別(bie)）；同時可對樣品表面(mian)物理(li)化(hua)學(xue)特(te)性(xing)進行研究，數(shu)值測定與分析(xi)。

葛(ge)蘭帕(pa)針式掃(sao)描原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)是壹(yi)臺(tai)納(na)米(mi)分(fen)析(xi)儀器，用(yong)於(yu)樣品表面(mian)粗(cu)糙度和(he)樣品微尺(chi)度(du)分析。主要(yao)應用(yong)包(bao)括(kuo)工(gong)藝(yi)開發和技(ji)術(shu)樣品制作(zuo)的(de)過程控(kong)制(zhi)。

葛(ge)蘭帕(pa)國產(chan)版HR-AFM原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)HR-AFM是壹(yi)款(kuan)專(zhuan)業級(ji)的(de)高(gao)分(fen)辨率(lv)原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)，Z軸噪(zao)音低(di)於(yu)35皮米(mi)。該設(she)備(bei)可(ke)以(yi)在(zai)不破壞(huai)樣品內部(bu)結構(gou)的(de)情(qing)況下觀(guan)測樣品微區(qu)三(san)維形貌和多(duo)相結構(gou)；同時可對樣品表面(mian)物理(li)化(hua)學(xue)特(te)性(xing)進行研究，數(shu)值測定與分析(xi)。

原(yuan)子力顯(xian)微(wei)鏡(jing)膠體(ti)探(tan)針技術參(can)數(shu)：針尖：10nm 力學(xue)常(chang)數：48N/m(28-75N/m) 共(gong)振頻率(lv)：190KHz（160-220KHz） 長度：225 um（215-235um） 寬(kuan)度(du)：38 um （33-43um） 厚度：7 um （6-8um）