簡(jian)要(yao)描述：緊(jin)湊型(xing)原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡可以在不破壞樣(yang)品內部(bu)結構(gou)的情(qing)況下觀(guan)測樣品微區三維形貌(mao)和(he)多(duo)相(xiang)結構(gou)（納米級(ji)別(bie)）；同時可對樣品表(biao)面物(wu)理(li)化學(xue)特(te)性進行(xing)研究，數(shu)值(zhi)測定(ding)與分析(xi)。
產品型(xing)號(hao)：廠(chang)商(shang)性質：生(sheng)產廠(chang)家更新時間：2025-01-17訪 問(wen) 量：2590產品目(mu)錄(lu)
相(xiang)關文章
| 品牌(pai) | 其他(ta)品牌(pai) | 儀器種(zhong)類 | 原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qu)間 | 面議 | 產(chan)地(di)類別(bie) | 進口(kou) |
| 應用(yong)領域 | 食品/農(nong)產(chan)品,化(hua)工(gong),生(sheng)物(wu)產(chan)業(ye),能(neng)源(yuan),制(zhi)藥/生(sheng)物(wu)制(zhi)藥 |
緊(jin)湊型(xing)原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡工(gong)作模式：
1.標準(zhun)工(gong)作模式：
1.1輕(qing)敲(qiao)模(mo)式(Vibration mode)
1.2接(jie)觸(chu)模式(Contact mode)
1.3相(xiang)位(wei)成(cheng)像模(mo)式(Phase imaging)
1.4橫(heng)向(xiang)力(li)模(mo)式(Lateral force Microscopy LFM)
1.5力(li)曲線測試(shi)（Force curve）可測楊(yang)氏模量(liang)
1.6納(na)米操控 （Nanomanipulation）
1.7納(na)米刻蝕 （Nanolithography）
1.8力(li)矩(ju)陣(zhen)模式 （Force Mapping）
1.9摩(mo)擦力(li)測試(shi) （Friction Mode）
2. 可(ke)選工(gong)作模式：
2.1 磁(ci)力(li)顯(xian)微鏡模式（MFM mode）
2.2 靜(jing)電(dian)力(li)顯(xian)微鏡模式（EFM mode）
2.3 導(dao)電(dian)顯(xian)微鏡模式（C-AFM mode）
2.4 液相(xiang)模式 （Liquid scan mode）
AFMWorkshop是專門(men)從事(shi)設計和(he)制(zhi)造原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡的專業(ye)化(hua)公(gong)司 。公(gong)司創始(shi)人(ren)是有30年(nian)原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡經(jing)驗(yan)的(de) Paul West博士(shi)，原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡教材(cai)《Atomic Forces Microscopes》的(de)作者(zhe)。
緊(jin)湊型(xing)原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡技術參(can)數(shu)
掃(sao)描範圍(wei)：100 μm，50 μm，15μmZ
方(fang)向(xiang)範圍(wei)：17 μm，7 μm
XY方(fang)向(xiang)驅動(dong)分辨(bian)率：0.01 nm
Z方(fang)向(xiang)驅動(dong)分辨(bian)率：0.003 nm
Z方(fang)向(xiang)測量噪音水(shui)平：0.15 nm
樣(yang)品尺(chi)寸(cun)：直徑(jing)25mm
上(shang)壹(yi)篇：針(zhen)式掃描原子(zi)力(li)顯(xian)微鏡
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