葛(ge)蘭(lan)帕NP-AFM原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)AFMWorkshop是(shi)壹臺納米分(fen)析儀器，用於樣品(pin)表(biao)面(mian)粗(cu)糙(cao)度(du)和(he)樣品(pin)微(wei)尺度(du)分(fen)析。主(zhu)要(yao)應(ying)用包括(kuo)工藝(yi)開(kai)發和(he)技(ji)術樣品(pin)制(zhi)作的過(guo)程(cheng)控(kong)制(zhi)。

葛(ge)蘭(lan)帕 AFMWorkshopTT2-AFM原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing) 可以(yi)在不(bu)破(po)壞(huai)樣品(pin)內部(bu)結(jie)構(gou)的(de)情(qing)況(kuang)下觀(guan)測(ce)樣品(pin)微(wei)區三(san)維形(xing)貌(mao)和(he)多相(xiang)結(jie)構(gou)（納米級別(bie)）；同時(shi)可對(dui)樣品(pin)表(biao)面(mian)物理(li)化學特(te)性(xing)進(jin)行(xing)研(yan)究(jiu)，數(shu)值(zhi)測(ce)定與分(fen)析。

提(ti)供(gong)原子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)定制(zhi)服務。葛(ge)蘭(lan)帕LS-AFM原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)AFMWorkshop是(shi)壹個與(yu)倒(dao)置光學顯微(wei)鏡(jing)聯(lian)合的用於生(sheng)命科學和(he)生(sheng)物材(cai)料(liao)樣品(pin)研(yan)究(jiu)顯微(wei)鏡(jing)。 是(shi)壹個針(zhen)式(shi)掃描的(de)原子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)。它包(bao)括(kuo)電(dian)子(zi)控制(zhi)器，光杠(gang)桿光學探(tan)測(ce)，光(guang)學顯微(wei)鏡(jing)，用於查(zha)看針(zhen)尖和樣品(pin)的(de)位置，獲取圖像結(jie)果(guo)和(he)後處理(li)的軟件(jian)。該(gai)系(xi)統(tong)具有(you)在原(yuan)子(zi)力顯微(wei)鏡(jing)XY軸(zhou)上相(xiang)對(dui)於倒(dao)置顯微(wei)鏡(jing)來定位樣品(pin)。樣品(pin)臺(tai)適(shi)用於培(pei)養皿(min)，載玻片和(he)標準(zhun)AFM樣品(pin)臺(tai).