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        1. 您(nin)的(de)位(wei)置(zhi): 首(shou)頁 > 技術(shu)文章(zhang) > 快速(su)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)有(you)這(zhe)麽(me)多(duo)實用性(xing),確定要錯過(guo)嗎(ma)?

          快速(su)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)有(you)這(zhe)麽(me)多(duo)實用性(xing),確定要錯過(guo)嗎(ma)?

          更新(xin)時(shi)間(jian):2023-03-07瀏覽(lan):1824次(ci)

            快速(su)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)是(shi)壹種新(xin)型(xing)的(de)探(tan)針顯微(wei)鏡(jing),是(shi)從(cong)掃描隧道(dao)顯微(wei)鏡(jing)的(de)基(ji)礎上發展(zhan)起來的(de)各種新(xin)型(xing)探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)(原子力(li)顯微(wei)鏡(jing),靜電力顯微(wei)鏡(jing),磁力(li)顯微(wei)鏡(jing),掃描離(li)子電導顯微(wei)鏡(jing),掃描電化學顯微(wei)鏡(jing)等(deng))的(de)統(tong)稱(cheng)。基(ji)本(ben)工作(zuo)原理(li)是(shi)利用探(tan)針與樣(yang)品表面原子和(he)分(fen)子之(zhi)間(jian)的(de)相互(hu)作(zuo)用,即(ji)當(dang)探(tan)針與樣(yang)品表面接近納(na)米(mi)尺(chi)度時(shi),形(xing)成(cheng)各種相(xiang)互(hu)作(zuo)用的(de)物理(li)場,通(tong)過檢(jian)測相應的(de)物理(li)量(liang),得到(dao)樣(yang)品(pin)的(de)表面形貌(mao)。掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)由(you)探(tan)頭、掃描儀(yi)、位(wei)移傳感(gan)器、控制器、檢測系(xi)統(tong)和(he)圖(tu)像系(xi)統(tong)組(zu)成(cheng)。
            
            快速(su)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)的(de)特點:
            
            1、除了(le)場(chang)離子顯微(wei)鏡(jing)和(he)高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)透射(she)電子顯微(wei)鏡(jing)外(wai),掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)是(shi)在場(chang)離(li)子顯微(wei)鏡(jing)和(he)高(gao)分(fen)辨(bian)率(lv)透射(she)電子顯微(wei)鏡(jing)後(hou),在原(yuan)子尺(chi)度上觀察物(wu)質(zhi)結構(gou)的(de)第三(san)類(lei)顯微(wei)鏡(jing)。以掃描隧道(dao)顯微(wei)鏡(jing)(STM)為例(li),其橫(heng)向(xiang)分(fen)辨(bian)率(lv)為0.1~0.2nm,縱(zong)向(xiang)深(shen)度分(fen)辨(bian)率(lv)為0.01nm,可以清(qing)晰地(di)觀察到(dao)分(fen)布在樣(yang)品(pin)表(biao)面的(de)單個原子或(huo)分(fen)子。同(tong)時(shi),在空(kong)氣、其他氣體或液(ye)體環境中(zhong)也可以觀察到(dao)掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)。
            
            2、掃描探(tan)針顯微(wei)鏡(jing)具有(you)原子分(fen)辨(bian)率(lv)、原子輸(shu)運、納(na)米(mi)微(wei)加工等(deng)特點,但由(you)於各種掃描顯微(wei)鏡(jing)的(de)工作(zuo)原理(li)不同(tong),其結果(guo)反映(ying)了(le)樣品(pin)表面的(de)不同(tong)信(xin)息。掃描隧道(dao)顯微(wei)鏡(jing)(STM)測量(liang)樣品(pin)表(biao)面的(de)電子工位(wei)的(de)分(fen)布信(xin)息,該信(xin)息具有(you)原子分(fen)辨(bian)率(lv),但仍不能(neng)獲得樣(yang)品的(de)真實(shi)結構(gou)。原子顯微(wei)鏡(jing)檢測原子間(jian)相互(hu)作(zuo)用的(de)信(xin)息,從(cong)而(er)獲得原(yuan)子在樣(yang)品(pin)表(biao)面排(pai)列的(de)信(xin)息,這(zhe)是(shi)樣品(pin)的(de)真實(shi)結構(gou)。另壹方面,原子力(li)顯微(wei)鏡(jing)無(wu)法測量(liang)與理(li)論相(xiang)比(bi)較(jiao)的(de)電子狀態(tai)信(xin)息,因(yin)此(ci)它(ta)們各(ge)自(zi)具有(you)較(jiao)短(duan)的(de)長(chang)度。

           

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